GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

标准编号：GB/T 4937.4-2012

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

发布日期：2012-11-05

实施日期：2013-02-15

起草人

李丽霞、陈海蓉、崔波

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所

适用范围

GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。