DIN EN 60749-43:2018-05 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017); German version EN 60749-43:2017

标准编号：DIN EN 60749-43:2018-05

英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (IEC 60749-43:2017); German version EN 60749-43:2017

德文标题：Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden Pläne zur Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen (IEC 60749-43:2017); Deutsche Fassung EN 60749-43:2017

发布日期：2018-05

标准预览图