DIN 50454-1:2000-07 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of dislocations in monocrystals of III-V-compound semi-conductors - Part 1: Gallium arsenide

标准编号：DIN 50454-1:2000-07

英文标题：Testing of materials for semiconductor technology - Determination of dislocations in monocrystals of III-V-compound semi-conductors - Part 1: Gallium arsenide

德文标题：Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Versetzungsätzgrubendichte in Einkristallen von III-V-Verbindungshalbleitern - Teil 1: Galliumarsenid

发布日期：2000-07

标准预览图