GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定

标准编号：GB/T 17473.2-2008

代替了下列标准：GB/T 17473.2-1998

标准名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定

英文名称：Test methods of presious metals pastes used for microelectronics - Determination of fineness

发布日期：2008-03-31

实施日期：2008-09-01

起草人

武新荣、罗云、陈伏生、李文琳

起草单位

贵研铂业股份有限公司

适用范围

本部分规定了微电子技术用贵金属浆料细度的刮板测定方法。 本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定。