GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
标准编号：GB/T 17473.1-2008
代替了下列标准：GB/T 17473.1-1998
标准名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
英文名称：Test methods of precious metals pastes used for microelectronics-Determination of solids content
发布日期：2008-03-31
实施日期：2008-09-01
起草人
陈一、张骏、朱武勋
起草单位
贵研铂业股份有限公司
适用范围
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。 本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。
