DIN EN 60749-6:2017-11 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017); German version EN 60749-6:2017

标准编号：DIN EN 60749-6:2017-11

英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017); German version EN 60749-6:2017

德文标题：Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur (IEC 60749-6:2017); Deutsche Fassung EN 60749-6:2017

发布日期：2017-11

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