IEC 62899-503-1:2020 印刷电子.第503-1部分:质量评定.印刷薄膜晶体管位移电流测量的试验方法

标准编号：IEC 62899-503-1:2020

中文名称：印刷电子.第503-1部分:质量评定.印刷薄膜晶体管位移电流测量的试验方法

英文名称：Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor

发布日期：2020-05-27

标准范围

IEC 62899-503-1:2020（E）规定了印刷薄膜晶体管（TFT）或有机薄膜晶体管（OTFT）的位移电流测量（DCM）的试验方法。

IEC 62899-503-1:2020(E) specifies a test method for displacement current measurement (DCM) for printed thin film transistors (TFTs) or organic thin film transistors (OTFTs).

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