IEC 60749-27:2006 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第27部分:静电放电（esd）灵敏度测试 - 机器型号（mm）

标准编号：IEC 60749-27:2006

中文名称：半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第27部分:静电放电（esd）灵敏度测试 - 机器型号（mm）

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

发布日期：2006-07-18

标准范围

建立了一个标准程序，用于根据半导体器件暴露在规定的机器型号（MM）静电放电（ESD）下的损坏或退化敏感性对其进行测试和分类。可作为人体模型ESD试验方法的替代试验方法。目的是提供可靠、可重复的ESD测试结果，以便进行准确的分类。本试验方法适用于所有半导体器件，属于破坏性试验

Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative test method to the human body model ESD test method. The objective is to provide reliable, repeatable ESD test results so that accurate classifications can be performed. This test method is applicable to all semiconductor devices and is classified as destructive

标准预览图