GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

标准编号：GB/T 15651.3-2003

标准名称：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

英文名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

发布日期：2003-11-24

实施日期：2004-08-01

起草单位

华禹光谷股份有限公司半导体厂

适用范围

本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。