IEC 60749-41:2020 半导体器件.机械和气候试验方法.第41部分:非易失性存储器器件的标准可靠性试验方法

标准编号：IEC 60749-41:2020

中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第41部分:非易失性存储器器件的标准可靠性试验方法

英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

发布日期：2020-07-22

标准范围

IEC 60749-41:2020规定了根据鉴定规范进行有效耐久性、保持性和交叉温度试验的程序要求。JESD47中规定了耐久性和保持性鉴定规范（用于循环计数、持续时间、温度和样本量），或使用基于知识的方法（如JESD94）制定。

IEC 60749-41:2020 specifies the procedural requirements for performing valid endurance, retention and cross-temperature tests based on a qualification specification. Endurance and retention qualification specifications (for cycle counts, durations, temperatures, and sample sizes) are specified in JESD47 or are developed using knowledge-based methods such as in JESD94.

标准预览图