IEC 63284:2022 半导体器件.氮化镓晶体管用电感负载切换的可靠性试验方法

标准编号：IEC 63284:2022

中文名称：半导体器件.氮化镓晶体管用电感负载切换的可靠性试验方法

英文名称：Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors

发布日期：2022-04-21

标准范围

IEC 63284:2022涵盖了执行应力程序的协议和相应的测试方法，以通过电感负载切换，特别是硬开关应力来评估氮化镓（GaN）功率晶体管的可靠性

IEC 63284:2022 covers the protocol of performing a stress procedure and a corresponding test method to evaluate the reliability of gallium nitride (GaN) power transistors by inductive load switching, specifically hard-switching stress

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