IEC 62435-2:2017 电子元件 - 电子半导体器件的长期存储 - 第2部分:劣化机制

标准编号：IEC 62435-2:2017

中文名称：电子元件 - 电子半导体器件的长期存储 - 第2部分:劣化机制

英文名称：Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms

发布日期：2017-01-24

标准范围

IEC 62435-2:20 17与劣化机制有关，并与组件随时间降解的方式有关，具体取决于所应用的储存条件。本部分还包括可用于评估一般劣化机制的试验方法指南。通常，该部分与IEC 62435-1:20 17一起用于任何器械长期储存，对于计划长期储存的产品，其持续时间可能超过12个月。

IEC 62435-2:2017 is related to deterioration mechanisms and is concerned with the way that components degrade over time depending on the storage conditions applied. This part also includes guidance on test methods that may be used to assess generic deterioration mechanisms. Typically, this part is used in conjunction with IEC 62435-1:2017 for any device long-term storage whose duration may be more than 12 months for product scheduled for long duration storage.

标准预览图