ISO 21222:2020 表面化学分析扫描探针显微术原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的方法

标准编号：ISO 21222:2020

中文名称：表面化学分析扫描探针显微术原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的方法

英文名称：Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method