GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定

标准编号：GB/T 17473.3-1998

标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定

英文名称：Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance