GB/T 17473.7-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验
标准编号:GB/T 17473.7-1998
标准名称:厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验
英文名称:Test methods ofprecious metal pastes used for thick film microelectronics--Test of solderability and solderleaching resistance
发布日期:1998-08-19
实施日期:1999-03-01
起草单位
昆明贵金属研究所

