GB/T 17473.7-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验

标准编号:GB/T 17473.7-1998

标准名称:厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验

英文名称:Test methods ofprecious metal pastes used for thick film microelectronics--Test of solderability and solderleaching resistance

发布日期:1998-08-19

实施日期:1999-03-01

起草单位

昆明贵金属研究所

适用范围


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