ISO 23729:2022 表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸放大原子力显微镜图像的恢复程序指南

标准编号：ISO 23729:2022

中文名称：表面化学分析 原子力显微镜 有限探针尺寸放大原子力显微镜图像的恢复程序指南

英文名称：Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size

发布日期：2022-07

标准范围

本文件描述了原子力显微镜（AFM）探头尖端的定量表征程序，以及有限探头尺寸放大的AFM地形图像的恢复程序。使用合适的参考材料，通过图像重建提取探针顶点的三维形状。本文件适用于固体材料表面AFM地形图像的重建。

This document describes a procedure for the quantitative characterization of the probe tip of an atomic force microscope (AFM) probe and a restoration of AFM topography images dilated by finite probe size. The three-dimensional shape of the probe apex is extracted by image reconstruction using suitable reference materials. This document is applicable to the reconstruction of AFM topography images of solid material surfaces.

标准预览图