GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法

标准编号：GB/T 1555-1997

标准名称：半导体单晶晶向测定方法

英文名称：Test methods for determining the orientation ofa semiconductor single crystal

发布日期：1997-12-22

实施日期：1998-08-01

起草单位

峨嵋半导体材料厂

适用范围