GB/T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法

标准编号：GB/T 16822-1997

标准名称：介电晶体介电性能的试验方法

英文名称：Test method for dielectric properties of dielectric crystal

发布日期：1997-05-28

实施日期：1998-02-01

起草单位

中国科学院物理研究所

适用范围

本标准规定了介电晶体的低频（10MHz以下）介电系数及介电损耗的试验方法。本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。