ISO 24173:2024 微光束分析 用电子背散射衍射进行定向测量的指南

标准编号：ISO 24173:2024

中文名称：微光束分析 用电子背散射衍射进行定向测量的指南

英文名称：Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction

发布日期：2024-02

标准范围

本文档就如何使用电子背散射衍射（EBSD）生成可靠且可重复的晶体取向测量提供了指导。它解决了样品制备、仪器配置、仪器校准和数据采集的要求。

This document gives guidance on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

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