GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理

标准编号：GB/T 4377-1996

代替了下列标准：GB 4377-1984

标准名称：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理

英文名称：Semiconductor integrated circuits--General principles of measuring methods of voltage regulator

发布日期：1996-07-09

实施日期：1997-01-01

起草单位

北京半导体器件五厂

适用范围

本标准规定了半导体集成电路电压调整器（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试，不适用于双端（单端口）器件。