GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法

标准编号：GB/T 15653-1995

标准名称：金属氧化物半导体气敏元件测试方法

英文名称：Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor

发布日期：1995-07-24

实施日期：1996-04-01

起草单位

电子工业部标准化研究所

本标准规定了金属氧化物半导体气敏元件（以下简称元件）性能参数测试方法的基本原理，没有规定这些方法在实际使用时的技术细节，测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏元件性能参数的测试，其他气敏元件亦可参照使用。