ISO/TS 10798:2011 纳米技术 用扫描电子显微镜和能量散射X射线光谱分析描述单壁碳纳米管

标准编号：ISO/TS 10798:2011

中文名称：纳米技术 用扫描电子显微镜和能量散射X射线光谱分析描述单壁碳纳米管

英文名称：Nanotechnologies — Charaterization of single-wall carbon nanotubes using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectrometry analysis

发布日期：2011-07

标准范围

ISO/TS 10798:2011建立了使用扫描电子显微镜和能量色散X射线光谱分析对原始和纯化的单壁碳纳米管（SWCNT）粉末和薄膜中的催化剂和其他无机杂质的形态进行表征，并确定其元素组成的方法。ISO/TS 10798:2011中描述的单壁碳纳米管的方法也可用于多壁碳纳米管（MWCNT）的分析。

ISO/TS 10798:2011 establishes methods to characterize the morphology, and to identify the elemental composition of catalysts and other inorganic impurities in raw and purified single-wall carbon nanotube (SWCNT) powders and films, using scanning electron microscopy and energy dispersive X-ray spectrometry analysis.The methods described in ISO/TS 10798:2011 for SWCNTs can also be applied to the analysis of multiwall carbon nanotubes (MWCNTs).

标准预览图