GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法

标准编号:GB/T 6624-1995

标准名称:硅抛光片表面质量目测检验方法

英文名称:Standard method for measuring the surfacequality of polished silicon slices by visual inspection

发布日期:1995-04-18

实施日期:1995-12-01

起草单位

上海第二冶炼厂

适用范围


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