ISO 13084:2011 表面化学分析二次离子质谱飞行时间二次离子质谱用质量标度的校准

标准编号：ISO 13084:2011

中文名称：表面化学分析二次离子质谱飞行时间二次离子质谱用质量标度的校准

英文名称：Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer