GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
标准编号：GB/T 14030-1992
标准名称：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
英文名称：General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
发布日期：1992-12-17
实施日期：1993-08-01
起草单位
上海元件五厂
适用范围
本标准规定了半导体集成电路时基电路（以下简称器件或时基电路）电参数测试方法的基本原理
