ISO 20263:2017 微束分析分析电子显微镜在分层材料的横截面图像中确定界面位置的方法

标准编号：ISO 20263:2017

中文名称：微束分析分析电子显微镜在分层材料的横截面图像中确定界面位置的方法

英文名称：Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials