ISO 17470:2004 微束分析 电子探测器微量分析-用波长分散X光 光谱分析法作定性点分析的指南

标准编号：ISO 17470:2004

中文名称：微束分析 电子探测器微量分析-用波长分散X光 光谱分析法作定性点分析的指南

英文名称：Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry

发布日期：2004-09

标准范围

ISO 17470:2004通过在电子探针微分析仪或扫描电子显微镜上分析使用波长色散X射线光谱仪获得的X射线光谱，为鉴定元素和调查样本中特定体积内特定元素的存在提供了指南。

ISO 17470:2004 gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements, within a specific volume, contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

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