ISO 16243:2011 表面化学分析 X射线光电子能谱术的记录和报告数据

标准编号：ISO 16243:2011

中文名称：表面化学分析 X射线光电子能谱术的记录和报告数据

英文名称：Surface chemical analysis — Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

发布日期：2011-12

标准范围

ISO 16243:2011规定了使用X射线光电子能谱（XPS）分析试样后，分析员报告的最低信息水平。它包括要记录在分析记录上或分析记录中的信息。

ISO 16243:2011 specifies the minimum level of information to be reported by the analyst following the analysis of a test specimen using X？ray photoelectron spectroscopy (XPS). It includes information that is to be recorded on or in the analytical record.

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