ISO/TS 22298:2024 纳米技术 二氧化硅纳米材料 有序纳米孔阵列（SONA）二氧化硅的特性和测量方法规范

标准编号：ISO/TS 22298:2024

中文名称：纳米技术 二氧化硅纳米材料 有序纳米孔阵列（SONA）二氧化硅的特性和测量方法规范

英文名称：Nanotechnologies — Silica nanomaterials — Specification of characteristics and measurement methods for silica with ordered nanopore array (SONA)

发布日期：2024-03

标准范围

本文件规定了要测量的具有有序纳米孔阵列（SONA）的二氧化硅样品的特性？粉末形式和用于确定所述特性的工业上可获得的测量方法。本文件为各种应用的SONA的研究、开发和商业化提供了良好的基础。本文件不包括硅胶、气相二氧化硅和化学改性的SONA。笔记？SONA的孔径通常在一纳米到几十纳米的范围内。

This document specifies the characteristics of samples of silica with ordered nanopore array (SONA) to be measured in powder form and the industrially available measurement methods used to determine said characteristics. This document provides a sound base for the research, development and commercialization of SONA for various applications.

This document excludes silica-gel, fumed silica and chemically modified SONA.

NOTE       The pore size of SONA ranges usually from one nanometre to several tens of nanometres.

标准预览图