GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

标准编号：GB/T 5594.4-1985

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for dielectric loss angle tangent value

发布日期：1985-11-27

实施日期：1986-12-01

起草单位

天津大学

适用范围

本标准适用于测定电子元器件结构陶瓷材料在频率1MHz，温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。