GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法

标准编号：GB/T 5594.3-1985

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test methodfor mean coefficient of linear expansion

发布日期：1985-11-27

实施日期：1986-12-01

起草单位

电子部12所

适用范围

本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子元器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。