ISO/TR 18392:2005 表面化学药品分析 X光光电子光谱学- -背景测定程序

标准编号：ISO/TR 18392:2005

中文名称：表面化学药品分析 X光光电子光谱学- -背景测定程序

英文名称：Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for determining backgrounds

发布日期：2005-12

标准范围

ISO/TR 18392:2005给出了确定X射线光电子光谱背景的指南。所述背景测定方法适用于评估固体表面X射线激发的光电子和俄歇电子的光谱。

ISO/TR 18392:2005 gives guidance for determining backgrounds in X-ray photoelectron spectra. The methods of background determination described are applicable for evaluation of spectra of photoelectrons and Auger electrons excited by X-rays from solid surfaces.

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